Определение оптических постоянных анизотропных поглощающих кристаллов на основе разложения в ряд коэффициентов отражения

Abstract

Предложен метод определения оптических постоянных поглощающих одноосных кристаллов и низкосимметричных кристаллов ромбической сингонии, основанный на разложении функций в ряд по малым величинам и дающий возможность получить приближенные соотношения, точность которых не превышает погрешностей эксперимента. Достоинствами метода является его простота, так как оптические постоянные рассчитываются подстановкой измеряемых эллипсометрических параметров в аналитические выражения, а не вычисляются сложными численными методами, а также возможность устранить трудности исследования, связанные как с увеличением числа параметров, подлежащих определению (в общем случае ориентации ромбических кристаллов число параметров, характеризующих кристалл девять, три параметра определяют ориентацию кристалла, остальные являются постоянными кристалла при фиксированной длине волны), так и со значительным усложнением соотношений, описывающих распространение света в этих кристаллах.