Эллипсометрическое определение показателей преломления и коэффициентов поглощения одноосных поглощающих кристаллов с использованием отражения и преломления света на границе изотропная среда – кристалл

Abstract

Получены выражения для компонент матрицы отражения для границы изотропная среда и кристалл произвольной анизотропии. Конкретизируя вид векторов \(\overrightarrow{e_{1,2}}\), \(\overrightarrow{h_{1,2}}\), из них можно получить соответствующие выражения для границы одноосных, низкосиметричных и гиротропных кристаллов. Рассмотрено определение показателей преломления и коэффициентов поглощения одноосных поглощающих кристаллов. Предложенный метод определения оптических постоянных поглощающих одноосных кристаллов, основанный на разложении функций в ряд по малым величинам, дает возможность получить приближенные соотношения, точность которых не превышает погрешностей эксперимента. Достоинством метода является его простота, т. к. оптические постоянные рассчитываются подстановкой измеряемых эллипсометрических параметров в аналитические выражения, а не вычисляются сложными численными методами.